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隨著集成電路(IC)技術(shù)的不斷進(jìn)步,傳統(tǒng)的晶片制造方式面臨著電晶體密度和性能的瓶頸。為了應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn),晶片制造商開(kāi)始尋求“向上發(fā)展”的方案,即通過(guò)堆疊電晶體與其他半導(dǎo)體元件,以提高計(jì)算能力。類(lèi)似于將平房改建成摩天大樓,堆疊晶片的方式本應(yīng)為半導(dǎo)體領(lǐng)域開(kāi)辟新天地,但這項(xiàng)技術(shù)也遇到了一些制約。
傳統(tǒng)的晶片堆疊技術(shù)通常需要每一層都依賴基板支撐,這一做法導(dǎo)致了電信號(hào)傳輸?shù)难舆t,制約了堆疊晶片的效率。為了突破這一限制,麻省理工學(xué)院(MIT)的一支研究團(tuán)隊(duì)在最新的研究中提出了一項(xiàng)全新的3D晶片堆疊方法,有望改變現(xiàn)有的制造流程。
根據(jù)MIT工程師在《自然》期刊上發(fā)布的最新研究,這項(xiàng)新技術(shù)通過(guò)一種創(chuàng)新的方式,成功地實(shí)現(xiàn)在沒(méi)有硅基板的情況下,交替堆疊高質(zhì)量的半導(dǎo)體材料層。具體來(lái)說(shuō),研究團(tuán)隊(duì)利用冶金學(xué)原理,通過(guò)在較低溫度下生長(zhǎng)單晶2D過(guò)渡金屬二硫?qū)倩铮═MD)層,成功地繞過(guò)了傳統(tǒng)堆疊技術(shù)中的溫度限制。
過(guò)渡金屬二硫?qū)倩铮?/span>TMD)材料被認(rèn)為是硅的潛在替代品,其優(yōu)越的電子性能使得它們成為小型化和高效能電晶體的理想材料。MIT團(tuán)隊(duì)的突破性進(jìn)展使得這些材料可以在低至攝氏380度的溫度下生長(zhǎng),這大大降低了傳統(tǒng)方法中所需的高溫工藝,從而避免了對(duì)底層電路的潛在損害。
此外,研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)這種新方法成功制作了多層晶片,將兩種不同的TMD材料交替堆疊。二硫化鉬(MoS2)用于n型電晶體,而二硒化鎢(WS2)則用于p型電晶體。這種方法不僅突破了以硅為中介層的傳統(tǒng)堆疊方式,還大大提升了堆疊晶片的傳輸效率和性能。
這一技術(shù)突破為未來(lái)的人工智慧硬體設(shè)計(jì)提供了巨大的潛力。MIT的研究團(tuán)隊(duì)預(yù)測(cè),采用這種新型3D晶片堆疊技術(shù),可以顯著提升包括穿戴式設(shè)備、筆記本電腦等在內(nèi)的電子產(chǎn)品的運(yùn)算能力,并且能夠處理更大規(guī)模的數(shù)據(jù),接近甚至超越當(dāng)前超級(jí)計(jì)算機(jī)的性能。這對(duì)于加速人工智慧、機(jī)器學(xué)習(xí)和數(shù)據(jù)中心的發(fā)展具有重要意義。
MIT機(jī)械工程副教授金智煥(Jeehwan Kim)表示:“這項(xiàng)突破為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)開(kāi)辟了巨大的潛力。我們可以在沒(méi)有傳統(tǒng)限制的情況下堆疊晶片,這有望將人工智慧、邏輯運(yùn)算與記憶體應(yīng)用的計(jì)算能力提升幾個(gè)數(shù)量級(jí)。”
這項(xiàng)研究不僅為未來(lái)的半導(dǎo)體制造技術(shù)提供了新的方向,也標(biāo)志著一個(gè)可能改變計(jì)算機(jī)硬體設(shè)計(jì)和人工智慧應(yīng)用的重大突破。隨著這項(xiàng)技術(shù)的不斷發(fā)展,未來(lái)的計(jì)算設(shè)備可能會(huì)變得更加小型化、高效能,甚至具備與當(dāng)今超級(jí)計(jì)算機(jī)相媲美的能力。
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